광학적인 간섭계,악기 만들기 위한 정확한 측정을 위한 광선 등의 요인으로 길이,표면 불규칙성 및 굴절. 그것은 빛의 빔을 불평등 한 경로를 여행하고 재결합 할 때 강도를 더하거나 빼는(서로 간섭하는)다수의 빔으로 나눕니다. 이 간섭은 간섭 변두리라고 불리는 밝고 어두운 밴드의 패턴으로 나타납니다. 에서 파생된 정보는 프린지 측정을 사용에 대한 정확한 파장의 결정,측정의 아주 작은 거리와 두께,이 연구의 스펙트럼 라인,그리고 결정의 굴절률의 투명 재료입니다. 천문학에서 간섭계는 별 사이의 거리와 별의 직경을 측정하는 데 사용됩니다.

1881 년 미국의 물리학 자 A.A.Michelson 은 Michelson-Morley 실험에 사용 된 간섭계를 구성했습니다. 이 Michelson 간섭계 및 수정에 사용되는 광학적인 산업에 대한 테스트 렌즈,프리즘에 대한 측정을 굴절률,그리고 검사하기 위한 정보의 표면(microtopographies). 악기로 구성되어 있 반 silvered 거울을 나누는 광선으로 두 개의 동일한 부분 중의 하나로 전송되는 고정된 거울 및 기타의 반영을 움직일 수 있는 거울입니다. 거울이 움직일 때 생성 된 변두리를 계산함으로써 이동량을 정확하게 결정할 수 있습니다. Michelson 또한 개발한 스타 간섭계,를 측정할 수 있는 직경의 별 측면에서 각도의 작은 0.01″의 호,subtended 에 의하여 극단적인 포인트 스타의 지점에서의 관찰합니다.

1896 년 영국의 물리학 자 Lord Rayleigh 는 기체와 액체의 굴절률을 결정하는 데 여전히 널리 사용되는 Rayleigh 간섭 굴절계를 설명했습니다. Michelson 간섭계와 같은 스플릿 빔 계측기입니다. 한 빔 참고 자료로 제공하는 동안,다른 전달을 통한 물질의 굴절률과 다음을 통해 알 수 있습니다. 미지의 굴절률은 알려진 물질의 그것들로부터의 간섭 변두리의 변위에 의해 결정될 수있다.

fabry-Pérot 간섭계(가변 갭 간섭계)는 1897 년 프랑스 물리학 자 Charles Fabry 와 Alfred Pérot 에 의해 제작되었습니다. 그것은 etalon 이라고 불리는 두 개의 매우 반사적이고 엄격하게 평행 한 판으로 구성됩니다. 때문에 높은 반사율의 격판덮개의 etalon,연속적인 다중 반사 광파의 감소에서 매우 천천히 강도와 형태는 매우 좁고,날카로운 무늬. 이러한 사용할 수 있습을 공개하는 초 미세 구조에서 선 스펙트럼을 평가하기 위해,의 폭이 좁은 스펙트럼을 redetermine 길이의 표준 미터입니다.

Fizeau-Laurent 표면 간섭계(그림 참조)결의 출발 닦은 표면에서 비행기입니다. 이 시스템은 1862 년 프랑스 물리학 자 A.-H.-L.Fizeau 에 의해 기술되었으며 1883 년에 광학 산업에서 널리 사용되는 계측기에 적용되었습니다. Fizeau-Laurent 시스템에서 단색의 빛(단색의 빛)은 핀홀을 통과하여 기준 평면과 그 바로 아래의 공작물을 비 춥니 다. 광선은 공작물에 수직입니다. 을 유지하여 약간의 사이의 각도는 제품의 표면 및 표면 비행기에서의 참조,변두리의 동일한 두께를 통해 볼 수 있는 반사판 위에 배치됩니다. 변두리는 공작물 표면의 등고선지도를 구성하여 광학 광택기가 평탄도에서 결함 및 이탈을 확인하고 제거 할 수있게합니다.

트 와이-Green 간섭계,의 적응 Michelson 기기에 도입되는 1916 년에 의하여 영어로 전기 엔지니어 프랭크 트 와이어 화학자가 아서 녹색,테스트용으로 사용되는 렌즈와 프리즘입니다. 그것은 품질 렌즈의 초점에 단색 빛의 포인트 소스를 사용합니다. 을 때 빛을 향해 완벽한 프리즘 반환을 보는 지점을 정확히으로 소스에서,그리고 균일한 분야의 조명을 볼 수 있습니다. 프리즘 유리의 국부적 인 불완전 함은 웨이브 프론트를 왜곡합니다. 을 때 빛을 향해 렌즈에 의해 백업됩 볼록한 거울이 전달라는 렌즈를 통해,파업,거울 및를 되짚어 경로를 통해 렌즈를 보는 점이다. 렌즈의 불완전 함은 프린지 왜곡을 초래합니다.