光学干渉計、長さ、表面の不規則性および屈折率のような要因の光線のための精密な測定をするための器械。 これは、光のビームを、不等な経路を移動し、その強度が、再会したときに加算または減算（互いに干渉する）するビームの数に分割する。 この干渉は、干渉縞と呼ばれる明るいバンドと暗いバンドのパターンとして現れます。 フリンジ測定から得られた情報は、正確な波長決定、非常に小さな距離と厚さの測定、スペクトル線の研究、透明材料の屈折率の決定に使用されます。 天文学では、干渉計は星の間の距離と星の直径を測定するために使用されます。1881年、アメリカの物理学者A.A.MichelsonがMichelson-Morley実験で使用された干渉計を構築しました。 マイケルソン干渉計および修正はテストのレンズおよびプリズム、測定の屈折率、および表面（microtopographies）の微細な細部を検査するために光学工業で使用される。 この装置は、光ビームを二つの等しい部分に分割する半銀の鏡で構成されており、そのうちの一つは固定鏡に伝達され、もう一つは可動鏡に反射される。 ミラーが動くと同時に作成されるフリンジを数えることによって、動きの量は正確に定めることができる。 マイケルソンはまた、観測点での星の極端な点によってsubtended、角度の面で星の直径を測定することができる恒星干渉計を開発しました。

1896年、イギリスの物理学者Lord Rayleighは、気体や液体の屈折率を決定するためにまだ広く使用されているRayleigh干渉屈折計を説明しました。 これは、マイケルソン干渉計のようなスプリットビーム機器です。 一方のビームは基準として機能し、他方のビームは最初に既知の屈折率の材料を通過し、次に未知のものを通過します。 未知のものの屈折率は、既知の材料の干渉縞からの干渉縞の変位によって決定することができる。

Fabry-Pérot干渉計（可変ギャップ干渉計）は、フランスの物理学者Charles FabryとAlfred Pérotによって1897年に製造されました。 これは、エタロンと呼ばれる二つの非常に反射性の高い厳密に平行なプレートで構成されています。 エタロンのプレートの高い反射率のために、光波の連続的な多重反射は強度が非常にゆっくりと減少し、非常に狭く、鋭い縞を形成する。 これらは、線スペクトルの超微細構造を明らかにし、狭いスペクトル線の幅を評価し、標準メートルの長さを再決定するために使用することができる。

ブリタニカプレミアムサブスクリプションを取得し、排他的なコンテンツへのアクセスを得る。 Fizeau-Laurent表面干渉計（図を参照）は、研磨された表面の平面からの出発を明らかにする。 このシステムは1862年にフランスの物理学者A.-H.-L.Fizeauによって記述され、1883年に光学産業で広く使用されている機器に適応しました。 Fizeau-Laurentシステムでは、単一色ライト（単一色のライト）はピンホールを通って渡され、それの下の参照の平面そして工作物を直接照らす。 光ビームは工作物に垂直です。 工作物の表面と参照の平面の表面間のわずかな角度の維持によって、等しい厚さのフリンジはそれらの上に置かれる反射器を通して見ることがで フリンジは工作物の表面の等高線図を構成し、平坦から欠陥および出発を見、取除くことを光学ポリッシャが可能にする。

Twyman-Green干渉計は、英語の電気技師Frank Twymanと英語の化学者Arthur Greenによって1916年に導入されたマイケルソン装置を適応させたもので、レンズやプリズム それは質レンズの焦点で白黒ライトのポイント源を使用する。 光が完全なプリズムに向けられると、光源からのものとまったく同じように見える点に戻り、均一な照明場が見られます。 プリズムガラスの局所的な欠陥は波面を歪ませる。 光が凸面鏡で裏打ちされたレンズに向けられると、それはレンズを通過し、ミラーに衝突し、レンズを通って視野ポイントにその経路を後退させる。 レンズの欠陥はフリンジのゆがみで起因します。